技術原理 材料經由帶有能量的入射離子轟擊而產生二次離子，二次離子經加速後進入二次離子質譜分析系統運用電、磁場的偏轉將離子按不同質量分開，而達到成份分析的目的。二次離子強度經過轉換可得到元素的濃度，而離子轟擊時間，可轉換成雜質 ...
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JEOL JAMP-9500F為一場發射式掃描歐傑電子能譜分析儀，具有半球型(HSA)的能量解析器，可以達到極佳0.05%的電子能量分辨率；並且擁有極高的掃描電子影像(SEM)解析度3nm，歐傑Mapping的解析度則可達到8nm。它是一種表面分析的精密儀器，可適用於表面5~8nm厚度物質之成份定性與半定量分析；除此之外，亦可搭配離子 ...
技術原理. 材料經由帶有能量的X光照射後形成光電效應，將內層軌域的電子激發產生光電子，只有在樣品表面所產生的光電子才能脫逸出而被測得，此被激發的光電子經偵檢器分析後，可測得光電子束縛能的能譜，由於不同元素、不同軌域所產生的光電子束縛能不同，所以可由束縛能得知此光電子來自於哪一種元素的哪一層軌域。
對先進電子產品的電路佈局技術和製程技術來說，專利權的侵權鑑定是高科技公司在保護智慧財產權時必要的手段，它通常關係到索賠時必要的策略性分析諮詢，和技術 ... 閎康科技可以為客戶建構符合實際需求的內部實驗室，在接受專案委託之初，提供一個契合企業專業領域應用的實驗室規劃提案，它包括實驗室設備、評估、採購、 ...
2018年3月22日 ... news, 閎康,材料分析,根因分析,可靠度分析,實驗室,MA,FA,RA, Material Analysis, Failure Analysis, Reliability Analysis.
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闳康快讯! ESCA/XPS分析服务新上市欢迎洽询！ 号外！闳康科技除了现有的SIMS，TEM等材料分析服务外，新推出ESCA/XPS分析服务啰！ 目前还提供买一送一的 ...
配備在穿透式電子顯微鏡上的電子能量損失能譜(EELS, Electron Energy Loss Spectroscopy), 是一種高端的成份分析設備, 主要應用於低原子序固體材料, 例如碳氮氧 ...
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